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采用分級字線結(jié)構(gòu)可提高SRAM讀寫速度及降低電路動態(tài)功耗

來源:宇芯有限公司 日期:2020-05-18 10:02:30

采用分級字線結(jié)構(gòu)的存儲器將整個存儲陣列劃分為若干個相同的子陣列。與非分級字線結(jié)構(gòu)相比,它需要采用多級的字線譯碼才能完成對存儲單元的尋址。如圖1所示,整個電路采用層次化字線的多分割陣列結(jié)構(gòu)。

 
圖1 分級字線結(jié)構(gòu)
 
采用層次化字線分割結(jié)構(gòu)不僅能提高工作速度,而且能大大降低功耗。這是因為字線分割結(jié)構(gòu)使原本同時被激活的存儲單元變?yōu)橹挥斜贿x中的塊內(nèi)的存儲單元被激活。

具體工作為:假設(shè)將一條字線分為n段,若原來每條字線帶Nc個單元,則分割后每段字線只帶Nc/n個單元,字線長度也減小為原來的1/n。對于很大容量的存儲器,并不是簡單地把字線分段,而是采用如圖1 所示的分級字線結(jié)構(gòu),即把單元陣列在字線方向分成很多小塊,使每個小塊中的局部字線縮短,所帶單元數(shù)目減少。一定數(shù)目的局部字線(WL)通過塊選擇控制連接到次全局字線(SWL)上,幾條次全局字線再通過選擇控制門連接到全局字線(GWL)。其中全局字線由行地址的高幾位經(jīng)全局字線譯碼器譯碼產(chǎn)生,它將貫穿整個存儲陣列來驅(qū)動各個子模塊的塊內(nèi)字線譯碼器;而塊內(nèi)字線則由全局字線、塊選信號以及低幾位的行地址相與產(chǎn)生,塊內(nèi)字線直接與存儲單元的存取管相連,控制存儲單元是否選通。圖2通過SPICE模擬仿真給出了字模塊個數(shù)與功耗的關(guān)系。
 

圖2 子模塊個數(shù)與功耗的關(guān)系
 
對于4Kb SRAM,最簡單的二維陣列劃分為:256 行×16 列,假設(shè)Cbl為每個存儲單元相對于位線的寄生電容,Cwl為每個存儲單元相對于字線的寄生電容,則對于上述的二維陣列結(jié)構(gòu)來說,在忽略位線、字線自身寄生電容的情況下,每根位線上的總負載電容為256×Cbl,每根字線的總負載電容為16×Cwl。若將整個陣列分為2 個128×16b的子陣列,且各陣列都配有行、列譯碼單元及預(yù)充電路,使它們相互獨立的話,位線負載減少為128×Cbl,而塊內(nèi)字線上的負載也減小為16×Cwl,因此塊內(nèi)字線與位線上的延遲特性會得到很大的改善。由于存儲單元的位線上都配有預(yù)充電電路,預(yù)充電操作在整個芯片的功耗中占有相當大的比重。采用分級字線結(jié)構(gòu),則在讀寫操作時只需對其中的一個子陣列進行充電操作,以本設(shè)計為例,每次讀寫操作進行充/放電的電容負載僅為128×16×2×Cbl+16×Cwl=4096×Cbl+16×Cwl,而對于256 行×512 列的陣列來說,相應(yīng)的充/放電負載電容為:1024×64×2×Cbl+64×Cwl=131072×Cbl+64×Cwl。由靜態(tài)CMOS電路功耗的近似表達式:P = C × (VDD) × f
 
可以看出,采用分級字線結(jié)構(gòu)不僅提高了SRAM 的讀寫速度,而且降低了電路的動態(tài)功耗。


關(guān)鍵詞:SRAM    

 
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